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書誌番号	0000047986
言語	eng : 英語
NACSIS ID	BA30378332
和洋区分	洋資料
書名	Digital circuit testing and testability
著者名	Parag K. Lala
出版事項	San Diego : Academic Press, c1997
形態	xii, 199 p. ; 24 cm
分類	米国議会図書館分類表 : TK7874.75 DC20版 : 621.39/5/0287
巻冊次表示	巻書名 ISBN 表示価格 書籍リンク 0124343309
著者名典拠	Lala, Parag K., 1948-
件名	[普通件名] : LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing//K [普通件名] : LCSH:Digital integrated circuits -- Testing//K [普通件名] : LCSH:Integrated circuits -- Fault tolerance//K
注記	Includes bibliographical references and index

該当件数：1件

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		10023421	一般	549.1  L			貸出可能	0

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