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書誌番号	0000047975
言語	eng : 英語
NACSIS ID	BA36515684
和洋区分	洋資料
書名	Semiconductor material and device characterization
親書誌名 ; 番号等	A Wiley-Interscience publication
版	2nd ed
著者名	Dieter K. Schroder
出版事項	New York : Wiley, c1998
形態	xxiv, 760 p. ; 25 cm
分類	米国議会図書館分類表 : QC611 DC21版 : 621.3815/2 国立国会図書館分類表 : MC151
巻冊次表示	巻書名 ISBN 表示価格 書籍リンク 0471241393
著者名典拠	Schroder, Dieter K.
件名	[普通件名] : LCSH:Semiconductors//K [普通件名] : LCSH:Semiconductors -- Testing//K
リレーション	[書誌階層（上位：親）] : 1件( A Wiley-Interscience publication )
注記	Includes bibliographical references and index

該当件数：1件

	巻書名	所蔵ID	配架場所	請求記号	備考	返却予定日	ステータス	予約数
		10023410	一般	549.8  S			貸出可能	0

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