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書誌番号	0000041119
言語	eng : 英語
NACSIS ID	BA30062190
和洋区分	洋資料
書名	High-level test synthesis of digital VLSI circuits
親書誌名 ; 番号等	The Artech House solid-state technology library
著者名	Mike Tien-Chien Lee
出版事項	Boston : Artech House, c1997
形態	xi, 220 p. ; 24 cm
分類	米国議会図書館分類表 : TK7874.75 DC21版 : 621.39/5
巻冊次表示	巻書名 ISBN 表示価格 書籍リンク 0890069077
著者名典拠	Lee, Mike Tien-Chien
件名	[普通件名] : LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Data processing//K [普通件名] : LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing//K [普通件名] : LCSH:Computer-aided design//K [普通件名] : LCSH:Digital integrated circuits -- Testing -- Data processing//K
リレーション	[書誌階層（上位：親）] : 1件( The Artech House solid-state technology library )
注記	Includes bibliographical references (p. 199-214)

該当件数：1件

	巻書名	所蔵ID	配架場所	請求記号	備考	返却予定日	ステータス	予約数
		10015162	一般	549.7  L			貸出可能	0

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